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【2h】

Non-Gaussian Statistical Timing Models of Die-to-Die and Within-Die Parameter Variations for Full Chip Analysis

机译：全芯片分析的模具到模具和模内参数变化的非高斯统计时序模型

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Katsumi Homma; Izumi Nitta; Toshiyuki Shibuya;
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年度 2015
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3. Statistical Timing Analysis Using Levelized Covariance Propagation Considering Systematic and Random Variations of Process Parameters [J] . KUNHYUK KANG, BIPUL C. PAUL, KAUSHIK ROY ACM Transactions on Design Automation of Electronic Systems . 2006,第4期

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